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低損耗光學(xué)元件的反射率和透射率的測定
- 產(chǎn)品型號(hào)：
- 更新時(shí)間：2023-12-21
- 產(chǎn)品介紹：低損耗光學(xué)元件的反射率和透射率的測定低損耗光學(xué)組件的反射率值R> 99％和透射率值T> 99％可以通過腔衰蕩時(shí)間測量非常精、準(zhǔn)確地測量。與在光譜儀中進(jìn)行測量相比，該方法具有三個(gè)主要優(yōu)點(diǎn)：Ø適用于非常高的反射率和透射率Ø無法獲得比實(shí)際值高的測量值Ø它具有很高的準(zhǔn)確性
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產(chǎn)品介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 光學(xué)元件 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子,綜合 |
低損耗光學(xué)元件的反射率和透射率的測定
低損耗光學(xué)組件的反射率值R> 99％和透射率值T> 99％可以通過腔衰蕩時(shí)間測量非常準(zhǔn)確地測量。與在光譜儀中進(jìn)行測量相比，該方法具有三個(gè)主要優(yōu)點(diǎn)：
Ø適用于非常高的反射率和透射率
Ø無法獲得比實(shí)際值高的測量值
Ø它具有很高的準(zhǔn)確性
Basic CRD Measurement Setup
基本CRD測量設(shè)置
Layertec隨附各種腔衰蕩系統(tǒng)，通過這些系統(tǒng)可以穩(wěn)定地控制光學(xué)組件的質(zhì)量。 有關(guān)更多詳細(xì)信息，請(qǐng)參閱我們的目錄內(nèi)容“低損耗光學(xué)器件和腔衰蕩時(shí)間測量簡介”。
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轉(zhuǎn)向鏡 - 寬帶CRD測量示例
薄膜偏振片- CRD測量示例
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